17.040.01 Линейные и угловые измерения в целом

Документы классификатора 17.040.01 Линейные и угловые измерения в целом:

• 
  ГОСТ 14711-69 - Головки измерительные рычажно-пружинные. Миникаторы. Технические условия
• 
  ГОСТ 25349-88 - Основные нормы взаимозаменяемости. Единая система допусков и посадок. Поля допусков деталей из пластмасс
• 
  ГОСТ 8.248-77 - ГСИ. Головки измерительные пружинные. Методы и средства поверки
• 
  ГОСТ 8.300-78 - ГСИ. Образцы шероховатости поверхности сравнения. Методика поверки
• 
  ГОСТ 8.301-78 - ГСИ. Меры длины штриховые. Ленты образцовые и рулетки измерительные металлические. Методы и средства поверки
• 
  ГОСТ 8.306-78 - ГСИ. Меры длины концевые плоскопараллельные образцовые 3, 4 и 5-го разрядов и рабочие классов точности 1- 5 длиной до 100 мм. Методы и средства поверки
• 
  ГОСТ 8.591-2009 - Государственная система обеспечения единства измерений. Меры рельефные нанометрового диапазона с трапецеидальным профилем элементов. Методика поверки
• 
  ГОСТ 8.592-2009 - Государственная система обеспечения единства измерений. Меры рельефные нанометрового диапазона из монокристаллического кремния. Требования к геометрическим формам, линейным размерам и выбору материала для изготовления
• 
  ГОСТ 8.593-2009 - Государственная система обеспечения единства измерений. Микроскопы сканирующие зондовые атомно-силовые. Методика поверки
• 
  ГОСТ 8.594-2009 - Государственная система обеспечения единства измерений. Микроскопы электронные растровые. Методика поверки
• 
  ГОСТ Р 8.628-2007 - Государственная система обеспечения единства измерений. Меры рельефные нанометрового диапазона из монокристаллического кремния. Требования к геометрическим формам, линейным размерам и выбору материала для изготовления
• 
  ГОСТ Р 8.629-2007 - Государственная система обеспечения единства измерений. Меры рельефные нанометрового диапазона с трапецеидальным профилем элементов. Методика поверки
• 
  ГОСТ Р 8.630-2007 - Государственная система обеспечения единства измерений. Микроскопы сканирующие зондовые атомно-силовые. Методика поверки
• 
  ГОСТ Р 8.631-2007 - Государственная система обеспечения единства измерений. Микроскопы электронные растровые. Методика поверки
• 
  ГОСТ Р 8.635-2007 - Государственная система обеспечения единства измерений. Микроскопы сканирующие зондовые атомно-силовые. Методика калибровки
• 
  ГОСТ Р 8.636-2007 - Государственная система обеспечения единства измерений. Микроскопы электронные растровые. Методика калибровки
• 
  ГОСТ Р 8.644-2008 - Государственная система обеспечения единства измерений. Меры рельефные нанометрового диапазона с трапецеидальным профилем элементов. Методика калибровки
• 
  ГОСТ Р 8.696-2010 - Государственная система обеспечения единства измерений. Межплоскостные расстояния в кристаллах и распределение интенсивностей в дифракционных картинах. Методика выполнения измерений с помощью электронного дифрактометра
• 
  ГОСТ Р 8.697-2010 - Государственная система обеспечения единства измерений. Межплоскостные расстояния в кристаллах. Методика выполнения измерений с помощью просвечивающего электронного микроскопа
• 
  ГОСТ Р 8.698-2010 - Государственная система обеспечения единства измерений. Размерные параметры наночастиц и тонких пленок. Методика выполнения измерений с помощью малоуглового рентгеновского дифрактометра
• 
  ГОСТ Р 8.700-2010 - Государственная система обеспечения единства измерений. Методика измерений эффективной высоты шероховатости поверхности с помощью сканирующего зондового атомно-силового микроскопа
• 
  ГОСТ Р 8.763-2011 - Государственная система обеспечения единства измерений. Государственная поверочная схема для средств измерений длины в диапазоне от 1*10 в степени -9 до 50 м и длин волн в диапазоне от 0,2 до 50 мкм