29.045 Полупроводниковые материалы

Документы классификатора 29.045 Полупроводниковые материалы:

• 
  ГОСТ 19014-2024 - Кремний технический. Методы химического и спектрометрических анализов
• 
  ГОСТ 19014.0-73 - Кремний кристаллический. Общие требования к методам химического анализа
• 
  ГОСТ 19014.1-73 - Кремний кристаллический. Методы определения алюминия
• 
  ГОСТ 19014.2-73 - Кремний кристаллический. Методы определения железа
• 
  ГОСТ 19014.3-73 - Кремний кристаллический. Методы определения кальция
• 
  ГОСТ 19014.4-73 - Кремний кристаллический. Методы определения титана
• 
  ГОСТ 19658-81 - Кремний монокристаллический в слитках. Технические условия
• 
  ГОСТ 2169-2024 - Кремний технический. Общие технические условия
• 
  ГОСТ 2169-69 - Кремний технический. Технические условия
• 
  ГОСТ 22265-76 - Материалы проводниковые. Термины и определения
• 
  ГОСТ 22622-77 - Материалы полупроводниковые. Термины и определения основных электрофизических параметров
• 
  ГОСТ 26239.0-84 - Кремний полупроводниковый, исходные продукты для его получения и кварц. Общие требования к методам анализа
• 
  ГОСТ 26239.1-84 - Кремний полупроводниковый, исходные продукты для его получения и кварц. Метод определения примесей
• 
  ГОСТ 26239.2-84 - Кремний полупроводниковый, исходные продукты для его получения и кварц. Методы определения бора
• 
  ГОСТ 26239.3-84 - Кремний полупроводниковый, исходные продукты для его получения и кварц. Методы определения фосфора
• 
  ГОСТ 26239.5-84 - Кремний полупроводниковый и кварц. Метод определения примесей
• 
  ГОСТ 26239.6-84 - Кремний четыреххлористый. Метод определения дихлорсилана, трихлорсилана, тетрахлорида кремния, 1,3,3,3-тетрахлордисилоксана, 1,1,3,3-тетрахлордисилоксана, пентахлордисилоксана, гексахлордисилоксана, гексахлордисилана
• 
  ГОСТ 26239.7-84 - Кремний полупроводниковый. Метод определения кислорода, углерода и азота
• 
  ГОСТ 26239.8-84 - Кремний полупроводниковый и исходные продукты для его получения. Метод определения дихлорсилана, трихлорсилана и тетрахлорида кремния
• 
  ГОСТ 4.64-80 - Система показателей качества продукции. Полупроводниковые материалы. Номенклатура показателей
• 
  ГОСТ Р 71334-2024 - Структуры эпитаксиальные. Метод измерения толщины эпитаксиальных слоев кремния в структурах типа кремний на сапфире на основе инфракрасной интерференции
• 
  ГОСТ Р 71380-2024 - Пластины полупроводниковые и диэлектрические. Метод контроля закругленности края
• 
  ГОСТ Р 71422-2024 - Структуры эпитаксиальные и пленки диэлектрические. Метод измерения толщины эпитаксиальных слоев арсенида галлия на основе сферического шлифа
• 
  ГОСТ Р 71645-2024 - Кремний полупроводниковый. Метод измерения концентрации примесей
• 
  ГОСТ Р 71896-2024 - Микросхемы интегральные. Аналого-цифровые преобразователи. Методы измерения времени преобразования
• 
  Проект ГОСТ - Кремний кристаллический. Общие технические условия
• 
  Проект ГОСТ Р - Микросхемы интегральные. Аналого-цифровые преобразователи. Методы измерения времени преобразования